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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品詳細頁
高低頻介電常數分析儀

高低頻介電常數分析儀

  • 產品型號:GCSTD-D
  • 更(geng)新(xin)時間:2024-07-15
  • 產品介紹(shao):GCSTD-D高低頻介電常數分析儀滿足標準:
    GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
    GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
    ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數的測試方法
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

半導體(ti)元件(jian):變容二極(ji)管的C-VDC特性;晶體(ti)管或集成電路(lu)的寄生參數分析

其它(ta)元(yuan)件:印制電路板(ban)、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介(jie)質材料:塑料、陶(tao)瓷和其它材料的介(jie)電(dian)常數(shu)和損耗角評估

磁(ci)性材料:鐵(tie)氧體、非晶體和其它(ta)磁(ci)性材料的(de)導磁(ci)率(lv)和損耗(hao)角評估

半(ban)導(dao)體材料(liao):半(ban)導(dao)體材料(liao)的介電常數、導(dao)電率和(he)C-V特性

液晶材料:液晶單(dan)元的介電常數、彈性常數等C-V特性


測(ce)試電橋參數 

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

測試頻率 20 Hz~2MHz,10mHz步進 

測試信號電 f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV) 

f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV) 

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

基本準確度 0.1% 

 L 0.0001 uH ~ 9.9999kH 

 C 0.0001 pF ~ 9.9999F 

 R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ 


公司(si)以(yi)精美的產品、精良的品質、精心的服務贏(ying)得(de)了(le)廣大用戶(hu)和市場,擁有一大批國內外科研院所(suo)及(ji)企業用戶(hu)。


服務:具有(you)完(wan)備的(de)售后服務體系


技術(shu):自主研發(fa)+高校實驗室(shi)聯合開發(fa)


品質(zhi):對產品的精益追求+嚴格規(gui)范的測試


價格:科(ke)學的管理成本(ben)+高效率(lv)合作降低(di)成本(ben)


客戶:大中(zhong)院校+科研(yan)機構+質檢部門+實驗室等

GCSTD-D高低頻介電常數分析儀

四(si)種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶(dai)直流偏(pian)置源

外(wai)置偏流源至40A(配(pei)置兩(liang)臺(tai)TH1776)(選件)

電(dian)(dian)(dian)壓或電(dian)(dian)(dian)流的自動電(dian)(dian)(dian)平調整(ALC)功能

V、1測試信號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組(zu)內(nei)部儀器設定(ding)可供(gong)儲存/讀取

GCSTD-D高低頻介電常數分析儀








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