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產(chan)品詳細頁絕緣套管工頻介電常數介質損耗測試儀
- 產品型號:GCSTD-CII
- 更新時間:2024-07-14
- 產品介紹(shao):絕緣套管工頻介電常數介質損耗測試儀是一種*的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強, 測試時間短等優點。
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
GCSTD-CII絕緣套管工頻介電常數介質損耗測試儀
滿足標準:
GB/T1409-2006 測量電(dian)氣(qi)絕(jue)緣材料在工頻(pin)(pin)、音頻(pin)(pin)、高(gao)頻(pin)(pin)下電(dian)容率和介(jie)質損耗因數的推薦方法
GB/T 5654-2007 液體(ti)絕(jue)緣(yuan)材料 相對(dui)電容率(lv)、介(jie)質損耗因數和直流電阻(zu)率(lv)的測(ce)量
GB/T 21216-2007 絕緣(yuan)液(ye)體(ti) 測量電導和電容確定介質損(sun)耗(hao)因(yin)數的試(shi)驗(yan)方(fang)法
GB/T 1693-2007 硫(liu)化橡膠 介電常數(shu)和介質(zhi)損(sun)耗角正切值(zhi)的測定(ding)方(fang)法(fa)
GB/T 5594.4-1985__電子元(yuan)器件結構(gou)陶瓷材(cai)料(liao)性(xing)能測(ce)試方法(fa)__介質損耗角(jiao)正切(qie)值的測(ce)試方法(fa)
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一、產品概述
絕緣套管工頻介電常數介質損耗測試儀,是一種(zhong)(zhong)*的測(ce)量(liang)介質損耗(tgδ)和電(dian)容容量(liang)(Cx)的儀器,測(ce)量(liang)各種(zhong)(zhong)絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體(ti)、電(dian)力電(dian)纜、電(dian)容器、互感器、變(bian)壓(ya)器等高(gao)壓(ya)設(she)備的介質損耗(tgδ)和電(dian)容容量(liang)(Cx)。具有(you)操作簡單、中文顯示、打印、使用方(fang)便、無(wu)需換算、自帶(dai)高(gao)壓(ya),抗干(gan)擾能(neng)力強, 測(ce)試時間(jian)短(duan)等優點。
本測試儀采用變頻(pin)電源技術,利用單片(pian)機和電子(zi)技術進(jin)行自動頻(pin)率(lv)變換(huan)、模/數轉換(huan)和數據運算,達到抗干擾(rao)能力(li)強、測試速度(du)快、精(jing)度(du)高(gao)、操作(zuo)簡(jian)便的功能。
二、性能特點
1、儀器測(ce)(ce)量(liang)準(zhun)確度(du)高,可(ke)滿足油(you)介(jie)損(sun)測(ce)(ce)量(liang)要求(qiu),因此只需配備標準(zhun)油(you)杯,和專用測(ce)(ce)試線即(ji)可(ke)實(shi)現油(you)介(jie)損(sun)測(ce)(ce)量(liang)。
2、采(cai)用變(bian)頻(pin)技術來(lai)消除現場(chang)50Hz工頻(pin)干(gan)擾,即使在(zai)強電磁干(gan)擾的(de)環(huan)境下也能(neng)測得可靠(kao)的(de)數據。
3、過流保護功能,在試品短路(lu)或擊穿時(shi)儀器(qi)不受損(sun)壞(huai)。
4、內(nei)附標(biao)準電(dian)容和(he)高壓(ya)電(dian)源,便于現場測試,減少現場接線(xian)。
5、儀(yi)器(qi)(qi)采用大屏幕液(ye)晶(jing)顯示器(qi)(qi),測試過程(cheng)通過漢字菜單提示既(ji)直觀又便于操(cao)作。
三、技術指標
技術指標
1、試驗環境溫(wen)度:10℃~30℃(LCD液晶屏應避免長時間日照(zhao))
2、相對濕度:20%~80%
3、供電(dian)(dian)電(dian)(dian)源:電(dian)(dian)壓:220V±10%
4、外(wai)形尺寸:長*寬*高=470mm*320mm*360mm
5、重量:16kg
6、輸出功率:1.5KVA
7、顯示(shi)分辨率:3位、4位(內部全是6位)
8、測試方法(fa):正(zheng)接法(fa)、反接法(fa)、外接試驗電(dian)壓法(fa)
9、測量范圍:內接試驗電壓(ya):
tgδ:99.9%
Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF
10KV Cx<60000 pF
5KV Cx<80000 pF
2.5KV Cx<0.3uF
外接試驗電壓:
由外接試(shi)驗變壓器輸出功率(lv)而(er)定
10、基本測(ce)量誤差:介質(zhi)損耗(tgδ):1%±0.09%
電容(rong)容(rong)量(Cx):1.5%±1pF
11、分辨率: tgδ:0.01%
Cx :0.1pF
12、儀器(qi)為升壓(ya)與(yu)測(ce)量一(yi)體化結構(gou),輸出電壓(ya)2.5KV~10KV五檔可調
13、試樣要求:直徑為50MM、100MM、38MM
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