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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品詳(xiang)細頁
GCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀

GCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀

  • 產(chan)品型號(hao):GCSTD-CII
  • 更新時(shi)間:2024-07-14
  • 產(chan)品介紹(shao):GCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀是一種*的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強, 測試時間短等優點。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹


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GCSTD-CIIGCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀

滿足標準:

GB/T1409-2006 測(ce)量(liang)電(dian)氣(qi)絕(jue)緣材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)下電(dian)容率和介質損(sun)耗(hao)因數的推薦方(fang)法

GB/T 5654-2007 液體絕緣材料 相對(dui)電容率(lv)、介質損耗因數和直流電阻率(lv)的測量(liang)

GB/T 21216-2007 絕緣液(ye)體 測(ce)量電導和電容確定介質損耗因數的(de)試驗方法

GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常(chang)數和介質損耗角正切值(zhi)的測定方(fang)法(fa)

GB/T 5594.4-1985__電(dian)子(zi)元器件結構陶瓷材料(liao)性(xing)能測(ce)試(shi)方法__介質損(sun)耗角(jiao)正切值的(de)測(ce)試(shi)方法

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一、產品概述

GCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀,是一種(zhong)*的測(ce)量(liang)(liang)(liang)介(jie)質(zhi)損耗(hao)(tgδ)和電(dian)容(rong)容(rong)量(liang)(liang)(liang)(Cx)的儀器(qi),測(ce)量(liang)(liang)(liang)各種(zhong)絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電(dian)力(li)電(dian)纜、電(dian)容(rong)器(qi)、互感器(qi)、變壓器(qi)等(deng)高壓設備的介(jie)質(zhi)損耗(hao)(tgδ)和電(dian)容(rong)容(rong)量(liang)(liang)(liang)(Cx)。具(ju)有操作簡單、中文顯示、打印、使用方(fang)便、無需(xu)換算、自帶高壓,抗干擾能力(li)強, 測(ce)試時間短等(deng)優點。

本測試儀采用變頻電源技術,利(li)用單(dan)片機(ji)和電子技術進行自動頻率(lv)變換、模/數轉換和數據運(yun)算,達到抗(kang)干擾能力強、測試速(su)度(du)快、精度(du)高、操作簡(jian)便的功能。

二、性能特點

1、儀器測量準確度高,可(ke)滿足(zu)油(you)介損(sun)測量要(yao)求,因此只需配備標準油(you)杯,和(he)專用測試(shi)線即可(ke)實現油(you)介損(sun)測量。

2、采用變頻技術來消(xiao)除現(xian)場50Hz工頻干(gan)擾,即(ji)使(shi)在強電磁(ci)干(gan)擾的(de)環境下也能測得可(ke)靠的(de)數據。

3、過流保護功能(neng),在試(shi)品(pin)短路或擊穿時儀(yi)器不受損壞。

4、內附標準(zhun)電(dian)容和高壓電(dian)源,便于現場測試,減少現場接(jie)線。

5、儀器采用大屏幕液晶顯示器,測試過(guo)程通過(guo)漢字菜單提示既直觀又便(bian)于操(cao)作。

三、技術指標

技術指標

1、試(shi)驗環境溫度:10℃~30℃(LCD液晶屏應(ying)避免長(chang)時間日照)

2、相對(dui)濕度:20%~80%

3、供(gong)電電源:電壓:220V±10%

4、外形尺寸(cun):長*寬(kuan)*高=470mm*320mm*360mm

5、重量:16kg

6、輸(shu)出功率:1.5KVA

7、顯(xian)示分辨率:3位、4位(內部(bu)全是6位)

8、測試方法(fa):正接法(fa)、反接法(fa)、外接試驗(yan)電壓法(fa)

9、測量范(fan)圍:內接試驗電壓:

tgδ:99.9%

Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

10KV  Cx<60000 pF

5KV   Cx<80000 pF

2.5KV  Cx<0.3uF

外接試驗電壓:

由外(wai)接試驗變壓器輸(shu)出功率而定

10、基(ji)本測量誤(wu)差:介(jie)質損耗(tgδ):1%±0.09%

電容容量(Cx):1.5%±1pF

11、分辨率: tgδ:0.01%

Cx :0.1pF

12、儀(yi)器為(wei)升(sheng)壓(ya)與(yu)測(ce)量一體(ti)化結構,輸出電(dian)壓(ya)2.5KV~10KV五檔可(ke)調

13、試樣(yang)要求(qiu):直徑為50MM、100MM、38MM







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