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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品詳細頁
冠測新款高低頻介電常數測試儀

冠測新款高低頻介電常數測試儀

  • 產品型號:GCSTD-D
  • 更新(xin)時間(jian):2024-07-15
  • 產品介紹:冠測新款高低頻介電常數測試儀- 款滿足標準:
    GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
    GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
    ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數的測試方法
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

半(ban)導(dao)體元件:變(bian)容(rong)二極管(guan)的C-VDC特性;晶(jing)體管(guan)或(huo)集(ji)成電(dian)路的寄生參數分析(xi)

其它元件(jian):印制電(dian)路板、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜(lan)、電(dian)池等的阻(zu)抗(kang)評估(gu)

介(jie)(jie)質材料(liao):塑(su)料(liao)、陶瓷和(he)其它材料(liao)的(de)介(jie)(jie)電常數和(he)損耗角評估

磁性材料(liao):鐵氧體、非晶體和(he)其它磁性材料(liao)的(de)導磁率和(he)損耗角評估

半導體(ti)材料:半導體(ti)材料的(de)介電常數、導電率和C-V特性(xing)

液晶(jing)材料(liao):液晶(jing)單元(yuan)的介(jie)電常(chang)數、彈性常(chang)數等C-V特性


測試(shi)電橋參(can)數(shu) 

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

測試頻率 20 Hz~2MHz,10mHz步進 

測試信號電 f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV) 

f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV) 

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 


公(gong)司以精美的(de)產品、精良的(de)品質(zhi)、精心的(de)服務贏得了廣(guang)大(da)用戶(hu)(hu)和市場,擁有一大(da)批國內外科(ke)研(yan)院所及企業用戶(hu)(hu)。


服(fu)(fu)務:具(ju)有完備的售后服(fu)(fu)務體系


技術:自主研發+高(gao)校實驗室聯(lian)合開發


品(pin)質:對產品(pin)的(de)精(jing)益追求+嚴格規范(fan)的(de)測(ce)試


價格:科學的管理成本+高效率合作降低成本



冠測新款高低頻介電常數測試儀

測量速度 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零,負載校準 

等效方式 串聯方式, 并聯方式 

量程方式 自動, 保持 

顯示方式 直讀, Δ, Δ% 

觸發方式 內部, 手動, 外部, 總線 


冠測新款高低頻介電常數測試儀






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