產品介紹

GCSTD-D 變頻介質常數損耗測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣(yuan)材料在(zai)工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米波波長在(zai)內）下電容

率和介質損(sun)耗因數的推薦方(fang)法

GB／T1693-2007硫化橡(xiang)膠介電(dian)常數和介質損耗角正切(qie)值的(de)測定(ding)方法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電(dian)絕緣材料的(de)（恒久電(dian)介(jie)質）的(de)交流損(sun)耗特性(xing)和介(jie)電(dian)常數

的測試方法

變頻介質常數損耗測試儀試驗方法：

接觸法(fa)：適(shi)用于(yu)厚度均勻(yun)、上下表面平整(zheng)、光滑材料(liao)

非接觸法(fa)：適用于上下表(biao)面不平(ping)整、不光滑(hua)材(cai)料

電(dian)極(ji)(ji)類型(xing)：固定電(dian)極(ji)(ji)-測量電(dian)極(ji)(ji)φ38mm／φ50mm（標配電(dian)極(ji)(ji)1套，標配為(wei)38mm）

液(ye)(ye)體(ti)電極-液(ye)(ye)體(ti)容(rong)量15ml

粉體電極-根據樣品量可配(pei)專(zhuan)用電極

試樣類(lei)型(xing)：固體、液體、粉體、膏(gao)體／規則(ze)物或者不規則(ze)物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測(ce)試電平10mV～5V，1mV步(bu)進

基本準確度0.1％

最(zui)高達200次(ci)／s的測量速(su)度(du)

320x240點(dian)陣(zhen)大型圖形LCD顯示

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種(zhong)阻(zu)抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)(dian)壓或電(dian)(dian)流(liu)的自動電(dian)(dian)平調(diao)整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視(shi)功(gong)能

圖形掃描分析功能

20組內部儀(yi)器(qi)設定(ding)可供儲(chu)存／讀取

內(nei)建比較(jiao)器，10檔分選(xuan)及計數功能(neng)

多種通訊接口方便(bian)用(yong)戶(hu)聯機使用(yong)

2m／4m測(ce)試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動升級儀器工作程序(xu)

測試材料：

無源(yuan)元件(jian)：電(dian)(dian)容(rong)器、電(dian)(dian)感器、磁芯、電(dian)(dian)阻(zu)器、壓電(dian)(dian)器件(jian)、變(bian)壓器、芯片組(zu)件(jian)和網絡元件(jian)

等的陽抗參數評(ping)估和性能分析。

半導體元(yuan)件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成(cheng)電路的寄生參數分析

其(qi)它元件：印制電(dian)路(lu)板(ban)、繼電(dian)器、開(kai)關(guan)、電(dian)纜、電(dian)池等的(de)阻抗評估

介質(zhi)材料：塑料、陶瓷(ci)和其它材料的介電常(chang)數和損(sun)耗角評估

磁性(xing)材料(liao)：鐵氧體、非晶體和(he)(he)其它磁性(xing)材料(liao)的導磁率和(he)(he)損耗角評估

半(ban)導體材(cai)料：半(ban)導體材(cai)料的介電常(chang)數、導電率和C-V特(te)性(xing)

液(ye)晶材(cai)料：液(ye)晶單元的(de)介電常數(shu)、彈性常數(shu)等C-V特性