產品介紹

                                                        低溫物理吸附比表面分析儀

BETA201A

一、適用范圍及功能

1）低溫物理吸附比表面分析儀，適用產品(pin)多：包(bao)括測(ce)量建(jian)材(cai)(cai)(cai)、石墨、電池材(cai)(cai)(cai)料(liao)、沸石、碳(tan)材(cai)(cai)(cai)料(liao)、分子(zi)篩、二氧化鋁、土壤、有機化合物等粉體以及各種塊材(cai)(cai)(cai)、片(pian)材(cai)(cai)(cai)、高(gao)分子(zi)纖(xian)維等。

2）功能強(qiang)大(da)，包含目前所有的(de)數(shu)據處理方法：單點和多點BET比表面(mian)(mian)積(ji)(ji)。Langmuir比表面(mian)(mian)積(ji)(ji)。粒度(du)估算和真密度(du)測(ce)試、孔(kong)(kong)(kong)隙率(lv)及(ji)孔(kong)(kong)(kong)隙度(du)分(fen)析。吸、脫(tuo)附等(deng)溫線分(fen)析。BJH中(zhong)孔(kong)(kong)(kong)和大(da)孔(kong)(kong)(kong)的(de)孔(kong)(kong)(kong)體積(ji)(ji)，孔(kong)(kong)(kong)面(mian)(mian)積(ji)(ji)對孔(kong)(kong)(kong)徑的(de)分(fen)布，總孔(kong)(kong)(kong)體積(ji)(ji)等(deng)。可以(yi)加t-plots微(wei)孔(kong)(kong)(kong)分(fen)析，as-plots微(wei)孔(kong)(kong)(kong)分(fen)析，MP微(wei)孔(kong)(kong)(kong)分(fen)析等(deng)。可以(yi)進行微(wei)孔(kong)(kong)(kong)DR理論(lun)(lun)、HK狹縫孔(kong)(kong)(kong)理論(lun)(lun)、SF圓柱形孔(kong)(kong)(kong)理論(lun)(lun)分(fen)析，可加DFT密度(du)函數(shu)理論(lun)(lun)，包括NLDFT等(deng)。

二、軟件功能:

1)可(ke)以(yi)選擇USB連(lian)接(jie)或(huo)網口連(lian)接(jie)方(fang)式，網口連(lian)接(jie)可(ke)以(yi)實現遠程控制儀器(qi)、遠程診斷故障，可(ke)以(yi)通過(guo)路由器(qi)實現一臺(tai)電腦(nao)多(duo)臺(tai)設備(bei)操控，為(wei)客戶節(jie)省資源。

2)優(you)化(hua)的(de)真空泵啟停管理系統，在測試過程中真空泵無需一直處于運(yun)行狀(zhuang)態，減小噪音，延長，真空泵壽命。

3)自動恢復大(da)氣壓功能，方便樣(yang)(yang)品拆卸，并保證不會出現樣(yang)(yang)品飛濺。

4)自動(dong)高真空(kong)檢(jian)測系統，確(que)保測試均在高真空(kong)環境(jing)下進行，確(que)保測試結果的準確(que)性(xing)。

5)自動應急處理系(xi)統，能夠保證突然停電、石英管破(po)碎等突發(fa)偶然情況下儀器自動恢復正常。

6)強(qiang)大的(de)數據庫，存儲有多(duo)達幾十種測(ce)試(shi)模(mo)式，客戶也(ye)可以(yi)根(gen)據自身需要(yao)建(jian)立更(geng)符(fu)合自身產(chan)品的(de)測(ce)試(shi)模(mo)式，對產(chan)品進行(xing)更(geng)精確的(de)測(ce)試(shi)。

7)斷(duan)(duan)電后，測(ce)試(shi)系統恢復功(gong)(gong)能(neng)。比表面積及(ji)孔徑(jing)分析時(shi)(shi)，真空(kong)脫(tuo)氣過程相當(dang)漫長，在進行(xing)測(ce)試(shi)時(shi)(shi)，突然停電，中斷(duan)(duan)測(ce)試(shi)是一件(jian)非常痛苦而無奈(nai)的(de)事情。不僅損失掉(diao)數據、還會耽誤科(ke)研進程，這項功(gong)(gong)能(neng)在此時(shi)(shi)顯得特別重要。

8)可(ke)以(yi)進行(xing)PDF電(dian)子版打(da)印及(ji)Excel數據導出，以(yi)及(ji)各(ge)種理論數據選擇(ze)打(da)印。還可(ke)以(yi)進行(xing)不同(tong)時間、相同(tong)樣品、相同(tong)測試模(mo)式數據和(he)分布曲(qu)線對照查看和(he)打(da)印功能。

9)可以進行中英界面操(cao)作測試和中英文界面打印(yin)測試報告。