產品介紹

GCSTD-D 介電常數及介質損耗測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣(qi)絕緣材料在工頻、音頻、高(gao)頻（包(bao)括米波波長(chang)在內(nei)）下(xia)電(dian)容

率和(he)介(jie)質損耗因數的推薦方法(fa)

GB／T1693-2007硫化橡膠(jiao)介電常數和介質損耗角正切值的測定方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固體(ti)電(dian)絕緣材料的（恒久電(dian)介質(zhi)）的交流(liu)損耗特(te)性和介電(dian)常(chang)數(shu)

的測試方法

介電常數及介質損耗測試儀試驗方法：

接觸法：適用于厚度(du)均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法：適用于上下表面(mian)不平(ping)整、不光滑材(cai)料

電極類(lei)型：固定電極-測(ce)量電極φ38mm／φ50mm（標配(pei)電極1套，標配(pei)為38mm）

液(ye)體電極-液(ye)體容量15ml

粉(fen)體電(dian)極-根據樣(yang)品量可配專用電(dian)極

試樣類型：固體、液(ye)體、粉體、膏體／規則物(wu)或者不規則物(wu)

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步(bu)進(jin)

基本準確度0.1％

最高達(da)200次／s的測(ce)量速度

320x240點陣大型圖形(xing)LCD顯示

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種阻抗參(can)數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源(yuan)至(zhi)40A（配置兩(liang)臺TH1776）（選件）

電壓或電流的自(zi)動電平調(diao)整（ALC）功能(neng)

V、1測試信號電(dian)平監(jian)視(shi)功(gong)能

圖形掃描分析功能

20組內部儀(yi)器(qi)設定可供儲存／讀(du)取

內建比較器，10檔(dang)分選及(ji)計數功能

多種通訊接口方便用(yong)戶聯(lian)機使用(yong)

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通(tong)過USB HOST 自動升級儀器工作程序

測試材料：

無(wu)源元(yuan)件(jian)：電容器、電感器、磁(ci)芯、電阻(zu)器、壓電器件(jian)、變壓器、芯片組件(jian)和(he)網絡元(yuan)件(jian)

等的陽抗參數評(ping)估和(he)性(xing)能分(fen)析。

半導(dao)體(ti)(ti)元件：變容(rong)二極管的C-VDC特性；晶體(ti)(ti)管或集成(cheng)電路的寄生參(can)數分析

其(qi)它(ta)元(yuan)件：印(yin)制(zhi)電(dian)路板(ban)、繼電(dian)器、開關(guan)、電(dian)纜、電(dian)池等的阻(zu)抗評估

介質材料：塑料、陶瓷和其(qi)它(ta)材料的介電常(chang)數(shu)和損耗(hao)角評估

磁性材(cai)料：鐵氧(yang)體(ti)、非晶體(ti)和其它磁性材(cai)料的導磁率和損耗角評估(gu)

半(ban)導體材料：半(ban)導體材料的(de)介電常數、導電率和C-V特(te)性(xing)

液(ye)(ye)晶材(cai)料：液(ye)(ye)晶單元的介電常(chang)數(shu)、彈性常(chang)數(shu)等C-V特性