產品介紹

GCSTD-D 聚苯乙烯高低頻介電常數測量儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量(liang)電(dian)氣(qi)絕緣(yuan)材料在(zai)工(gong)頻、音(yin)頻、高頻（包括米波(bo)波(bo)長在(zai)內）下電(dian)容

率和介(jie)質損(sun)耗(hao)因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數和(he)介質(zhi)損耗角正切值的測定(ding)方法

ASTM D150／IEC 60250固體(ti)電絕緣材料(liao)的（恒久電介質）的交(jiao)流損耗特性和介電常(chang)數

的測試方法

聚苯乙烯高低頻介電常數測量儀試驗方法：

接(jie)觸(chu)法：適用(yong)于厚度均勻、上(shang)下表面(mian)平整、光滑材料

非(fei)接觸法：適用于上下表面不(bu)平(ping)整、不(bu)光滑材料

電(dian)(dian)極(ji)類(lei)型(xing)：固定(ding)電(dian)(dian)極(ji)-測量電(dian)(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標(biao)配(pei)電(dian)(dian)極(ji)1套，標(biao)配(pei)為(wei)38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體(ti)電極-根據(ju)樣(yang)品量可配專(zhuan)用電極

試樣類型：固體(ti)、液(ye)體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)／規(gui)(gui)則物(wu)或(huo)者不規(gui)(gui)則物(wu)

性能特點：

測(ce)試頻率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進

測(ce)試電(dian)平10mV～5V，1mV步(bu)進(jin)

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速(su)度

320x240點陣大型圖形(xing)LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組(zu)合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏(pian)流源(yuan)至40A（配置兩臺TH1776）（選(xuan)件）

電(dian)壓或(huo)電(dian)流的自動電(dian)平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功(gong)能

圖形掃描分析功能

20組內部(bu)儀器設定可供儲存／讀取

內建比較器(qi)，10檔分(fen)選(xuan)及(ji)計數功能

多種通訊接(jie)口(kou)方便(bian)用(yong)戶聯機使用(yong)

2m／4m測(ce)試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級(ji)儀(yi)器工作程(cheng)序

測試材料：

無源元件：電(dian)容器、電(dian)感器、磁(ci)芯、電(dian)阻(zu)器、壓電(dian)器件、變(bian)壓器、芯片組件和網絡元件

等的陽(yang)抗參(can)數評估和性能分析。

半(ban)導體元件：變(bian)容二極管的(de)C-VDC特性；晶體管或集成電路(lu)的(de)寄生參數(shu)分析

其它元件(jian)：印制電(dian)(dian)路(lu)板、繼電(dian)(dian)器、開關、電(dian)(dian)纜、電(dian)(dian)池等的(de)阻抗評估

介質材料：塑料、陶(tao)瓷和其它材料的介電(dian)常數(shu)和損耗角評估

磁(ci)性材料：鐵氧體、非(fei)晶體和其它磁(ci)性材料的(de)導磁(ci)率(lv)和損(sun)耗角評(ping)估

半導(dao)體材料：半導(dao)體材料的介電(dian)常數、導(dao)電(dian)率和C-V特性

液(ye)晶(jing)材料：液(ye)晶(jing)單(dan)元的介電常數、彈(dan)性(xing)常數等C-V特性(xing)