產品介紹

GCSTD-D 材料高低頻介電常數測定儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材(cai)料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米波(bo)波(bo)長在內）下電容

率和(he)介(jie)質損耗因數的(de)推(tui)薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切(qie)值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的（恒久電(dian)介質）的交(jiao)流損(sun)耗(hao)特性和(he)介電(dian)常數

的測試方法

材料高低頻介電常(chang)數測(ce)定儀試驗方法(fa)：

接觸(chu)法(fa)：適用于厚(hou)度均勻、上下表面平整(zheng)、光滑材料(liao)

非接觸法：適用(yong)于上下表面不平整、不光滑材料

電極(ji)類型：固定電極(ji)-測(ce)量電極(ji)φ38mm／φ50mm（標(biao)配(pei)電極(ji)1套，標(biao)配(pei)為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根據樣(yang)品量可配專用電極

試(shi)樣類型：固(gu)體(ti)、液體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)／規則物或者不規則物

性能特(te)點：

測(ce)試(shi)頻(pin)率20H2～2MHz，10mHz步進(jin)

測(ce)試電平10mV～5V，1mV步進

基本準(zhun)確度0.1％

最高達(da)200次／s的測量速度(du)

320x240點陣大型圖形(xing)LCD顯(xian)示

五位(wei)讀數分辨(bian)率

可測量22種阻(zu)抗參數組合

四種信號(hao)源(yuan)輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自(zi)帶直流偏置源

外置偏(pian)流源至40A（配(pei)置兩臺TH1776）（選件）

電壓或(huo)電流的自(zi)動電平調整（ALC）功(gong)能(neng)

V、1測(ce)試信號電平監視功能

圖形掃描分(fen)析(xi)功能

20組內部儀器(qi)設定(ding)可供儲存(cun)／讀取

內(nei)建(jian)比較器，10檔(dang)分(fen)選及計數功能

多種通訊接(jie)口方便(bian)用戶(hu)聯機(ji)使(shi)用

2m／4m測(ce)試電(dian)纜擴展（選件）

中(zhong)英文(wen)可(ke)選操(cao)作界(jie)面

可通(tong)過USB HOST 自動升(sheng)級(ji)儀(yi)器工(gong)作程序(xu)

測試材料：

無源(yuan)元件(jian)：電(dian)(dian)容器(qi)、電(dian)(dian)感器(qi)、磁芯(xin)、電(dian)(dian)阻器(qi)、壓電(dian)(dian)器(qi)件(jian)、變(bian)壓器(qi)、芯(xin)片組(zu)件(jian)和網(wang)絡元件(jian)

等的陽抗參數評估和性能分析(xi)。

半導體元件：變(bian)容二極(ji)管(guan)的C-VDC特性；晶體管(guan)或集成電(dian)路的寄生(sheng)參數(shu)分析

其它元件(jian)：印制電路(lu)板(ban)、繼電器、開關、電纜、電池(chi)等的阻抗評(ping)估

介質材料(liao)(liao)：塑料(liao)(liao)、陶瓷(ci)和其它材料(liao)(liao)的(de)介電常(chang)數(shu)和損耗(hao)角評估

磁(ci)性材料：鐵氧體(ti)、非晶體(ti)和其它磁(ci)性材料的導(dao)磁(ci)率和損耗角評估

半導(dao)體(ti)材料：半導(dao)體(ti)材料的介電常數(shu)、導(dao)電率(lv)和C-V特性(xing)

液(ye)晶材料：液(ye)晶單元的介電常數、彈性(xing)常數等C-V特(te)性(xing)