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產品詳(xiang)細頁
高分子材料介電常數及介質損耗測試儀

高分子材料介電常數及介質損耗測試儀

  • 產品型(xing)號:GCSTD-AB
  • 更(geng)新時(shi)間:2024-07-15
  • 產品介紹:高分子材料介電常數及介質損耗測試儀:介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

高分子材料介電常數及介質損耗測試儀


主(zhu)(zhu)要用途:主(zhu)(zhu)要用于測(ce)量(liang)非金(jin)屬材料的介(jie)電常數(shu)(ε)和(he)介(jie)質損(sun)耗(tanδ)


應(ying)用對象:該儀器用于(yu)科研(yan)機關、學校、工廠(chang)等單位對無機非金(jin)屬(shu)新材料性(xing)能(neng)的(de)應(ying)用研(yan)究(jiu)。


滿足標準:

GB/T1409-2006測量電(dian)(dian)氣絕緣材(cai)料在工頻、音頻、高頻下電(dian)(dian)容率和介質(zhi)損耗因(yin)數(shu)的(de)推(tui)薦方(fang)法

GB/T 5654-2007液體(ti)絕緣(yuan)材料 相對電容(rong)率(lv)、介質損(sun)耗因數(shu)和(he)直流電阻率(lv)的測量(liang)

GB/T 21216-2007絕緣(yuan)液體 測量電導和電容確定介質損耗因數(shu)的試(shi)驗方法

GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常數(shu)和介質損耗角正切值(zhi)的(de)測定方法(fa)

GB/T 5594.4-1985__電子元器件(jian)結構陶瓷(ci)材料性(xing)能測試方法介質損(sun)耗(hao)角正切值的測試方法

GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣(yuan)材料(liao)在工(gong)頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)(包括米(mi)波波長在內)下電(dian)容率和介(jie)質

損耗因數的推薦方法

ASTM D150/IEC 60250固(gu)體電絕緣材料的(de)(恒久電介質)的(de)交流損耗特性(xing)和介電常數的(de)測試方法


方法概述:

高分子材料介電常數及介質損耗測試儀是各種電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)瓷、裝置瓷、電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)等(deng)陶瓷,還有復合材(cai)料等(deng)的(de)(de)一項重(zhong)要的(de)(de)物理(li)性(xing)質,通(tong)過測(ce)定(ding)介(jie)(jie)質損(sun)耗角正切tanδ及介(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)(ε),可進一步了(le)解影響介(jie)(jie)質損(sun)耗和(he)介(jie)(jie)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)的(de)(de)各種因素,為提高(gao)(gao)材(cai)料的(de)(de)性(xing)能(neng)提供(gong)依據(ju);儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)基本原理(li)是采用(yong)高(gao)(gao)頻(pin)諧(xie)(xie)振法,并(bing)(bing)提供(gong)了(le),通(tong)用(yong)、多用(yong)途、多量(liang)程的(de)(de)阻抗(kang)測(ce)試(shi)。它以單片(pian)計算機作(zuo)為儀(yi)器(qi)(qi)的(de)(de)控(kong)制(zhi),測(ce)量(liang)核心采用(yong)了(le)頻(pin)率(lv)數(shu)字鎖定(ding),標準頻(pin)率(lv)測(ce)試(shi)點自動設定(ding),諧(xie)(xie)振點自動搜索,Q值(zhi)(zhi)量(liang)程自動轉換,數(shu)值(zhi)(zhi)顯示等(deng)新技術(shu),改進了(le)調諧(xie)(xie)回路(lu),使(shi)得調諧(xie)(xie)測(ce)試(shi)回路(lu)的(de)(de)殘余電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)減至,并(bing)(bing)保留了(le)原Q表中自動穩幅(fu)等(deng)技術(shu),使(shi)得新儀(yi)器(qi)(qi)在(zai)(zai)使(shi)用(yong)時更為方便,測(ce)量(liang)值(zhi)(zhi)更為精(jing)確(que)。儀(yi)器(qi)(qi)能(neng)在(zai)(zai)較高(gao)(gao)的(de)(de)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)條件下,測(ce)量(liang)高(gao)(gao)頻(pin)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)或諧(xie)(xie)振回路(lu)的(de)(de)Q值(zhi)(zhi),電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)器(qi)(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)量(liang)和(he)分(fen)布(bu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang),電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)器(qi)(qi)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)和(he)損(sun)耗角正切值(zhi)(zhi),電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)工材(cai)料的(de)(de)高(gao)(gao)頻(pin)介(jie)(jie)質損(sun)耗,高(gao)(gao)頻(pin)回路(lu)有效并(bing)(bing)聯及串聯電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻,傳輸線的(de)(de)特性(xing)阻抗(kang)等(deng)。


備注說明:

三(san)種不(bu)同(tong)型號的(de)儀器(qi),主(zhu)要(yao)區別是頻(pin)率不(bu)同(tong),根據(ju)自己(ji)測試頻(pin)率,選擇合適(shi)的(de)型號


電極規格

固體:材(cai)料測量直(zhi)徑Φ38mm 可選;厚度可調 ≥ 15mm  

液(ye)體:測量極(ji)片直徑(jing)Φ38mm; 液(ye)體杯內徑(jing)Φ48mm 、深7mm(選配)

粉(fen)體(ti):測(ce)量極片直(zhi)徑Φ38mm; 液(ye)體(ti)杯內徑Φ48mm 、深(shen)7mm(選配(pei))

試樣要求:固(gu)體樣品厚度(du)要求:0.5-15MM

產品配置:

1、測試主機:一臺

2、測試電感:9個

3、測試夾具(ju):1套(標配固體測試夾具(ju)一套)


其它規格:

1、環境溫度:0℃~+40℃;  

2、相對濕度:<80%;  

3、電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

4、消耗功率:約25W;  

5、凈重(zhong):約7kg;

6、外型尺(chi)寸:(長(chang)寬(kuan)高):380×280×132(mm)


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