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全自動土壤比表面及微孔分析儀

全自動土壤比表面及微孔分析儀

  • 產品型號(hao):BETA202A
  • 更新(xin)時間:2024-07-15
  • 產品介紹:全自動土壤比表面及微孔分析儀適用產品多:包括測量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。
    功能強大,包含目前所有的數據處理方法:單點和多點BET比表面積。Langmuir比表面積。粒度估算和真密度測試、孔隙率及孔隙度分析。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹




全自動土壤比表面及微孔分析儀

BETA202A


一、適用范圍及功能

1)全自動土壤比表面及微孔分析儀,適用產品多:包括測(ce)量建(jian)材(cai)(cai)、石(shi)墨、電池材(cai)(cai)料、沸石(shi)、碳材(cai)(cai)料、分(fen)子(zi)篩、二氧(yang)化鋁(lv)、土(tu)壤、有(you)機化合物(wu)等粉體以及各種塊材(cai)(cai)、片材(cai)(cai)、高(gao)分(fen)子(zi)纖維等。

2)功能強大(da),包含目前所有的數據處(chu)理方法:單點(dian)和(he)多點(dian)BET比表(biao)面積。Langmuir比表(biao)面積。粒度估算和(he)真密度測(ce)試(shi)、孔(kong)(kong)隙率(lv)及孔(kong)(kong)隙度分(fen)析。吸、脫附等溫線分(fen)析。BJH中孔(kong)(kong)和(he)大(da)孔(kong)(kong)的孔(kong)(kong)體積,孔(kong)(kong)面積對(dui)孔(kong)(kong)徑的分(fen)布,總(zong)孔(kong)(kong)體積等。可以加(jia)t-plots微(wei)孔(kong)(kong)分(fen)析,as-plots微(wei)孔(kong)(kong)分(fen)析,MP微(wei)孔(kong)(kong)分(fen)析等。可以進行微(wei)孔(kong)(kong)DR理論(lun)、HK狹縫孔(kong)(kong)理論(lun)、SF圓柱(zhu)形孔(kong)(kong)理論(lun)分(fen)析,可加(jia)DFT密度函數理論(lun),包括NLDFT等。

二、軟件功能:

1)可以(yi)選擇USB連(lian)(lian)接或網口連(lian)(lian)接方式(shi),網口連(lian)(lian)接可以(yi)實現遠(yuan)程(cheng)控(kong)制(zhi)儀器(qi)、遠(yuan)程(cheng)診斷故障,可以(yi)通過路由(you)器(qi)實現一臺電腦多臺設備(bei)操控(kong),為客戶節省資源。

2)優化(hua)的真空泵(beng)(beng)啟停管理系統,在測試過(guo)程中真空泵(beng)(beng)無需一直(zhi)處于運(yun)行(xing)狀(zhuang)態,減小噪音,延長,真空泵(beng)(beng)壽命。

3)自動恢復(fu)大(da)氣壓功能(neng),方便樣(yang)品拆卸,并保證不會出現樣(yang)品飛(fei)濺。

4)自(zi)動(dong)高真空(kong)檢測(ce)(ce)(ce)系統,確保測(ce)(ce)(ce)試均在高真空(kong)環境下進行,確保測(ce)(ce)(ce)試結果的(de)準確性。

5)自動(dong)應急處理(li)系統(tong),能夠保證(zheng)突然(ran)停電、石(shi)英管破碎(sui)等(deng)突發偶然(ran)情況下(xia)儀器自動(dong)恢復正常。

6)強(qiang)大(da)的(de)數據庫,存儲有多達幾十(shi)種測(ce)試模式,客(ke)戶也可(ke)以根據自身需要(yao)建立更(geng)符合自身產品(pin)的(de)測(ce)試模式,對產品(pin)進行更(geng)精確(que)的(de)測(ce)試。

7)斷(duan)電后,測(ce)試系(xi)統恢復功能。比表面積及孔徑分(fen)析時,真空脫氣過程相當漫長,在(zai)進行測(ce)試時,突然停電,中斷(duan)測(ce)試是一件非常痛(tong)苦(ku)而(er)無奈的事情。不僅損失掉數(shu)據、還會耽誤科(ke)研(yan)進程,這項功能在(zai)此時顯得(de)特別(bie)重要。

8)可(ke)(ke)以(yi)進(jin)行PDF電子版打(da)印(yin)及Excel數據(ju)導出,以(yi)及各種理(li)論數據(ju)選擇打(da)印(yin)。還可(ke)(ke)以(yi)進(jin)行不同(tong)時間(jian)、相同(tong)樣品(pin)、相同(tong)測試模式數據(ju)和分布曲(qu)線對照查看和打(da)印(yin)功能(neng)。

9)可(ke)以進行中英界(jie)(jie)面操作測試和中英文(wen)界(jie)(jie)面打印測試報(bao)告。




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