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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品詳細頁
孔隙率比表面積分析測定儀

孔隙率比表面積分析測定儀

  • 產品型號:BETA202A
  • 更新時間:2024-07-15
  • 產品介紹:孔隙率比表面積分析測定儀借助于氣體吸附原理(典型為氮氣),吸附、脫附等溫線測定。單點和多點BET比表面積。Langmuir比表面積測定。粒度估算和真密度測試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
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產品介紹




                                                                孔隙率比表面積分析測定儀

                                                                             BETA202A


一、適用范圍及功能

1)孔隙率比表面積分析測定儀,適(shi)用(yong)產品多:包括測量(liang)建材(cai)(cai)、石墨(mo)、電池材(cai)(cai)料、沸(fei)石、碳材(cai)(cai)料、分(fen)子篩、二氧化鋁(lv)、土壤、有機化合物等粉體以及各種塊材(cai)(cai)、片材(cai)(cai)、高分(fen)子纖維等。

2)功(gong)能強大,包(bao)含目前所有(you)的(de)數據處理(li)(li)方法:單點和多點BET比表(biao)(biao)面積。Langmuir比表(biao)(biao)面積。粒度(du)估算(suan)和真密度(du)測試、孔(kong)(kong)(kong)隙率(lv)及孔(kong)(kong)(kong)隙度(du)分(fen)(fen)析(xi)(xi)。吸、脫附等溫線分(fen)(fen)析(xi)(xi)。BJH中孔(kong)(kong)(kong)和大孔(kong)(kong)(kong)的(de)孔(kong)(kong)(kong)體積,孔(kong)(kong)(kong)面積對孔(kong)(kong)(kong)徑的(de)分(fen)(fen)布(bu),總孔(kong)(kong)(kong)體積等。可(ke)以加t-plots微(wei)孔(kong)(kong)(kong)分(fen)(fen)析(xi)(xi),as-plots微(wei)孔(kong)(kong)(kong)分(fen)(fen)析(xi)(xi),MP微(wei)孔(kong)(kong)(kong)分(fen)(fen)析(xi)(xi)等。可(ke)以進行(xing)微(wei)孔(kong)(kong)(kong)DR理(li)(li)論、HK狹縫孔(kong)(kong)(kong)理(li)(li)論、SF圓(yuan)柱形孔(kong)(kong)(kong)理(li)(li)論分(fen)(fen)析(xi)(xi),可(ke)加DFT密度(du)函(han)數理(li)(li)論,包(bao)括NLDFT等。

二、軟件功能:

1)可以(yi)選擇(ze)USB連接(jie)或網口(kou)連接(jie)方式(shi),網口(kou)連接(jie)可以(yi)實現(xian)遠程控制(zhi)儀器(qi)、遠程診斷故障,可以(yi)通過路(lu)由(you)器(qi)實現(xian)一臺電腦(nao)多(duo)臺設(she)備操控,為客戶節(jie)省(sheng)資源。

2)優化的(de)真(zhen)空(kong)泵(beng)啟停管(guan)理系統,在(zai)測試過程中真(zhen)空(kong)泵(beng)無需一直處于運行狀態,減小(xiao)噪音,延長,真(zhen)空(kong)泵(beng)壽(shou)命(ming)。

3)自動恢復大氣壓功能,方便樣(yang)品拆卸(xie),并保證不會出現(xian)樣(yang)品飛(fei)濺(jian)。

4)自(zi)動(dong)高(gao)真空檢(jian)測(ce)系統,確(que)保測(ce)試均在高(gao)真空環(huan)境下進行,確(que)保測(ce)試結果的準確(que)性。

5)自(zi)動(dong)應急處理系統,能夠保證(zheng)突(tu)(tu)然停電、石英管破碎等(deng)突(tu)(tu)發偶(ou)然情(qing)況下儀器自(zi)動(dong)恢復正常。

6)強大的(de)數據庫,存儲(chu)有多達幾十種測(ce)試模式,客(ke)戶(hu)也可(ke)以根據自(zi)身需要(yao)建立(li)更符合(he)自(zi)身產品(pin)的(de)測(ce)試模式,對(dui)產品(pin)進行更精確(que)的(de)測(ce)試。

7)斷電(dian)后,測(ce)試系統恢復(fu)功(gong)能。比表面(mian)積及孔徑分析(xi)時,真空脫氣過程相當(dang)漫長,在進行測(ce)試時,突然停(ting)電(dian),中斷測(ce)試是(shi)一件非常(chang)痛苦(ku)而無(wu)奈(nai)的(de)事情。不僅損失掉數據(ju)、還會耽誤科研(yan)進程,這項功(gong)能在此時顯得特別重(zhong)要。

8)可(ke)以進(jin)行PDF電子版打印及Excel數(shu)(shu)據(ju)(ju)導出,以及各種理論(lun)數(shu)(shu)據(ju)(ju)選擇打印。還可(ke)以進(jin)行不(bu)同(tong)(tong)時間、相(xiang)同(tong)(tong)樣品、相(xiang)同(tong)(tong)測試模式數(shu)(shu)據(ju)(ju)和(he)分布(bu)曲線(xian)對照查看和(he)打印功(gong)能(neng)。

9)可以進行中(zhong)(zhong)英(ying)界面操(cao)作(zuo)測(ce)試(shi)和中(zhong)(zhong)英(ying)文界面打(da)印測(ce)試(shi)報告。



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