產品介紹

電氣絕緣材料高低頻介電常數測試儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣材(cai)料在工頻、音頻、高頻（包括米(mi)波波長(chang)在內）下(xia)電(dian)容率和介(jie)質損耗因數的推薦方法

GB/T1693-2007 硫(liu)化橡膠 介電常數和介質損耗角(jiao)正切(qie)值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)(dian)絕緣(yuan)材料的(恒久電(dian)(dian)介(jie)質)的交流損耗特性和介(jie)電(dian)(dian)常數的測試方法

二、電氣絕緣材料高低頻介電常數測試儀技術要求：

接觸(chu)法：適用于厚度均勻(yun)、上下表面平(ping)整、光滑材料

電(dian)極類(lei)型：固定電(dian)極-測量電(dian)極φ38mm

測試頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試(shi)頻率可以掃描進(jin)行測試(shi)

*2、測(ce)試頻率可以單(dan)點測(ce)試

*3、測試頻率可以多頻設(she)置(zhi)測試

4、測試速(su)度(du)模式：快速(su)、中(zhong)速(su)、慢(man)速(su)

5、測試數據(ju)與曲線(xian)顯示：

*6、電阻率(lv)—測試頻率(lv)

*7、絕對(dui)介(jie)電常數--測(ce)試頻(pin)率

*8、相對介(jie)電常數--測試頻率

*9、相對介電常(chang)數虛部--測試(shi)頻率

*10、相(xiang)對介電常數實部--測試頻(pin)率

*11、介質損耗--測試(shi)頻率(lv)

*12、電容值--測(ce)試頻(pin)率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步(bu)進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次(ci)/s（f﹥30kHz） ,100次(ci)/s（f﹥1kHz）

中速(su): 25次(ci)(ci)/s, 慢速(su): 5次(ci)(ci)/s

校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零，負(fu)載校準(zhun)

等效方式 串聯方(fang)式, 并聯方(fang)式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部(bu), 手(shou)動, 外部(bu), 總(zong)線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步(bu)進

比較器功能 10檔分選及(ji)計(ji)數功能(neng)

顯示器 320×240點陣圖形LCD顯(xian)示

存儲器 可保(bao)存20組儀(yi)器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）