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產品(pin)詳細頁固體膏體高低頻介電常數測試儀
- 產品(pin)型號:GCSTD-DII
- 更新時間:2024-07-14
- 產品介紹:固體膏體高低頻介電常數測試儀GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法高低頻介電常數測試儀GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數的測試方法
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
固體膏體高低頻介電常數測試儀
GCSTD-DII
一、滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料(liao)在工頻、音頻、高(gao)頻(包括米(mi)波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦(jian)方法
GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常(chang)數(shu)和介質損耗角正切值的測定方法
ASTM D150/IEC 60250固(gu)體電絕緣材料的(de)(恒(heng)久電介(jie)質(zhi))的(de)交流損耗(hao)特性和介(jie)電常(chang)數的(de)測試(shi)方法
二、固體膏體高低頻介電常數測試儀技術要求:
接觸法(fa):適(shi)用(yong)于厚度均(jun)勻(yun)、上下表面平(ping)整、光滑材料
電極類型:固定電極-測(ce)量電極φ38mm
測(ce)試頻率(lv):20HZ-5MHZ
測試電極:黃銅電極
測試環境:室溫
三、軟件功能:
* 1、測試(shi)頻率可以掃描進(jin)行測試(shi)
*2、測試頻率可以(yi)單點測試
*3、測試頻(pin)率可以多頻(pin)設(she)置測試
4、測試速(su)度模式:快速(su)、中(zhong)速(su)、慢速(su)
5、測試數據與曲線顯示:
*6、電阻率—測試頻率
*7、絕對介電常數--測試頻(pin)率
*8、相對介電常數--測試頻率(lv)
*9、相對介電常(chang)數(shu)虛部--測試頻(pin)率
*10、相對介(jie)電(dian)常數(shu)實部--測試頻率
*11、介質損耗--測試頻率
*12、電容值--測(ce)試(shi)頻率
四 、測試電橋參數
測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率 20 Hz~5MHz,10mHz步進
測試信號電 f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)
平 f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)
輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度 0.1%
L 0.0001 uH ~ 9.9999kH
C 0.0001 pF ~ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ
顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S
D 0.0001 ~ 9.9999
Q 0.0001 ~ 99999
θ -179.99°~ 179.99°
測量速度 快速(su): 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能 開路(lu) / 短路(lu)點頻、掃(sao)頻清零,負(fu)載校準
等效方式 串聯方式, 并聯方式
量程方式 自動, 保持
顯示方式 直讀, Δ, Δ%
觸發方式 內部(bu), 手動, 外部(bu), 總線(xian)
內部直流偏 電壓模式 -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源 電流模式(內阻為50Ω) -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jin)
比較器功能 10檔(dang)分選及(ji)計數功(gong)能
顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器 可(ke)保存20組(zu)儀器設定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 LAN(LXI class C support)
RS232C
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