產品介紹

plots微孔分析 比表面積及孔徑測試儀

BETA202A

一、適用范圍及功能

1）plots微孔分析 比表面積及孔徑測試儀，適用產(chan)品(pin)多：包括測(ce)量建材(cai)、石墨(mo)、電(dian)池材(cai)料、沸石、碳材(cai)料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有(you)機化合物等粉體以及各(ge)種(zhong)塊材(cai)、片材(cai)、高分子纖維(wei)等。

2）功能強大(da)(da)，包(bao)含(han)目前所(suo)有的(de)數據處(chu)理(li)(li)方法：單點(dian)和(he)多(duo)點(dian)BET比表面(mian)積。Langmuir比表面(mian)積。粒度估算和(he)真密(mi)度測試、孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)隙(xi)率(lv)及孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)隙(xi)度分(fen)析(xi)(xi)。吸、脫附(fu)等溫線(xian)分(fen)析(xi)(xi)。BJH中孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)和(he)大(da)(da)孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)的(de)孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)體積，孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)面(mian)積對(dui)孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)徑的(de)分(fen)布，總孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)體積等。可(ke)(ke)(ke)以加(jia)t-plots微(wei)(wei)孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)分(fen)析(xi)(xi)，as-plots微(wei)(wei)孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)分(fen)析(xi)(xi)，MP微(wei)(wei)孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)分(fen)析(xi)(xi)等。可(ke)(ke)(ke)以進行微(wei)(wei)孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)DR理(li)(li)論、HK狹縫孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)理(li)(li)論、SF圓柱(zhu)形(xing)孔(kong)(kong)(kong)(kong)(kong)理(li)(li)論分(fen)析(xi)(xi)，可(ke)(ke)(ke)加(jia)DFT密(mi)度函數理(li)(li)論，包(bao)括(kuo)NLDFT等。

二、軟件功能:

1)可(ke)以選擇USB連接或網(wang)口連接方式，網(wang)口連接可(ke)以實(shi)現(xian)(xian)遠(yuan)程(cheng)控制(zhi)儀器、遠(yuan)程(cheng)診斷(duan)故(gu)障，可(ke)以通過路由器實(shi)現(xian)(xian)一臺(tai)(tai)電腦(nao)多臺(tai)(tai)設(she)備操控，為客戶節(jie)省(sheng)資源。

2)優化的真空泵啟停管理系統，在測試過程中真空泵無需一直處于運行狀態，減小噪音，延長，真空泵壽命。

3)自動恢復(fu)大氣壓功能，方便樣品拆(chai)卸，并保(bao)證不(bu)會出現樣品飛(fei)濺。

4)自動高(gao)真(zhen)(zhen)空(kong)檢測(ce)系統，確(que)(que)保測(ce)試均(jun)在高(gao)真(zhen)(zhen)空(kong)環境下進行，確(que)(que)保測(ce)試結果(guo)的準(zhun)確(que)(que)性。

5)自(zi)動應(ying)急處理(li)系(xi)統，能(neng)夠保證(zheng)突然停(ting)電(dian)、石英(ying)管破碎等突發偶然情況下儀器自(zi)動恢(hui)復正(zheng)常。

6)強(qiang)大的數據庫(ku)，存儲有多(duo)達(da)幾十種測試模式，客(ke)戶也(ye)可以根據自(zi)身(shen)需要(yao)建立更符(fu)合自(zi)身(shen)產品的測試模式，對產品進行更精確的測試。

7)斷電后(hou)，測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統恢復功能(neng)。比表(biao)面積及孔徑分析(xi)時，真(zhen)空(kong)脫氣(qi)過(guo)程(cheng)(cheng)相當漫長，在(zai)進行測(ce)(ce)試(shi)(shi)時，突然停電，中(zhong)斷測(ce)(ce)試(shi)(shi)是一(yi)件非常痛苦而(er)無(wu)奈的事情(qing)。不僅損失掉數據、還(huan)會耽誤(wu)科研進程(cheng)(cheng)，這項功能(neng)在(zai)此時顯得特(te)別(bie)重要。

8)可以(yi)進(jin)行PDF電子版(ban)打(da)印(yin)及(ji)Excel數據導出，以(yi)及(ji)各種理(li)論數據選(xuan)擇打(da)印(yin)。還可以(yi)進(jin)行不(bu)同(tong)(tong)時間(jian)、相同(tong)(tong)樣品、相同(tong)(tong)測試模式(shi)數據和分布曲線(xian)對(dui)照查(cha)看和打(da)印(yin)功(gong)能。

9)可(ke)以進行(xing)中(zhong)英界面操作(zuo)測試(shi)和(he)中(zhong)英文界面打印測試(shi)報告。