產品介紹

   BET 建材比表面積及孔徑測試儀

BETA201A

一、適用范圍及功能

1）   BET 建材比表面積及孔徑測試儀，適(shi)用(yong)產品(pin)多：包括測(ce)量建材(cai)、石墨、電池材(cai)料、沸石、碳材(cai)料、分(fen)子(zi)篩、二(er)氧化(hua)鋁(lv)、土壤(rang)、有機化(hua)合物等粉體(ti)以及各(ge)種(zhong)塊(kuai)材(cai)、片材(cai)、高(gao)分(fen)子(zi)纖維等。

2）功能強大(da)，包(bao)(bao)含目前(qian)所有(you)的(de)數據處理(li)(li)方(fang)法：單點(dian)(dian)和多點(dian)(dian)BET比表面(mian)積(ji)(ji)。Langmuir比表面(mian)積(ji)(ji)。粒度(du)(du)估算和真密度(du)(du)測試、孔(kong)(kong)(kong)隙率及孔(kong)(kong)(kong)隙度(du)(du)分(fen)析(xi)。吸(xi)、脫附等(deng)溫線分(fen)析(xi)。BJH中孔(kong)(kong)(kong)和大(da)孔(kong)(kong)(kong)的(de)孔(kong)(kong)(kong)體積(ji)(ji)，孔(kong)(kong)(kong)面(mian)積(ji)(ji)對孔(kong)(kong)(kong)徑的(de)分(fen)布，總孔(kong)(kong)(kong)體積(ji)(ji)等(deng)。可以加t-plots微孔(kong)(kong)(kong)分(fen)析(xi)，as-plots微孔(kong)(kong)(kong)分(fen)析(xi)，MP微孔(kong)(kong)(kong)分(fen)析(xi)等(deng)。可以進行微孔(kong)(kong)(kong)DR理(li)(li)論(lun)、HK狹縫孔(kong)(kong)(kong)理(li)(li)論(lun)、SF圓柱(zhu)形孔(kong)(kong)(kong)理(li)(li)論(lun)分(fen)析(xi)，可加DFT密度(du)(du)函數理(li)(li)論(lun)，包(bao)(bao)括NLDFT等(deng)。

二、軟件功能:

1)可以選擇USB連(lian)(lian)接或網(wang)口連(lian)(lian)接方式，網(wang)口連(lian)(lian)接可以實現遠程(cheng)控制儀器、遠程(cheng)診斷故(gu)障，可以通過路由器實現一臺電(dian)腦多臺設備(bei)操(cao)控，為客戶節(jie)省資源。

2)優化(hua)的真空泵(beng)啟(qi)停(ting)管理系(xi)統，在測試(shi)過程中(zhong)真空泵(beng)無需(xu)一直(zhi)處于運行狀態，減小噪音(yin)，延長，真空泵(beng)壽命。

3)自動恢(hui)復大氣(qi)壓功(gong)能，方便樣品(pin)拆卸，并保證不(bu)會出現樣品(pin)飛濺。

4)自動高真空(kong)檢測(ce)系(xi)統，確保測(ce)試(shi)均在高真空(kong)環境(jing)下進行，確保測(ce)試(shi)結果的(de)準確性。

5)自動應急(ji)處(chu)理(li)系統(tong)，能夠保(bao)證突然停電、石英管破(po)碎等突發偶然情(qing)況下儀器自動恢復正常。

6)強大的(de)數據庫，存儲(chu)有多達幾(ji)十種測試模(mo)式，客戶(hu)也可以根據自身需要建(jian)立更(geng)符合自身產品的(de)測試模(mo)式，對產品進行更(geng)精(jing)確的(de)測試。

7)斷電(dian)后(hou)，測(ce)試系統恢復功能。比表面(mian)積(ji)及孔徑分析時，真空脫氣過程相當(dang)漫長，在進行(xing)測(ce)試時，突(tu)然停(ting)電(dian)，中(zhong)斷測(ce)試是一件非常(chang)痛苦而無奈的事情。不(bu)僅損失(shi)掉數據、還會耽(dan)誤科研進程，這(zhe)項(xiang)功能在此時顯得特別(bie)重要。

8)可(ke)以(yi)進(jin)行(xing)PDF電子版打(da)印(yin)及Excel數據導(dao)出，以(yi)及各種(zhong)理論數據選擇打(da)印(yin)。還可(ke)以(yi)進(jin)行(xing)不同時間、相(xiang)同樣品、相(xiang)同測試模(mo)式數據和分布曲(qu)線對照查看和打(da)印(yin)功能。

9)可(ke)以進(jin)行中英界(jie)面操作測試(shi)和中英文界(jie)面打印測試(shi)報告(gao)。