產品介紹

GCSTD-DGCSTD高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量電(dian)氣絕緣材料在(zai)工(gong)頻(pin)、音(yin)頻(pin)、高頻(pin)（包括米波波長在(zai)內）下電(dian)容

率和介(jie)質損耗(hao)因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介(jie)電常數(shu)和(he)介(jie)質(zhi)損耗(hao)角正切(qie)值的測定(ding)方法

ASTM D150／IEC 60250固體(ti)電(dian)絕(jue)緣材料的（恒(heng)久電(dian)介質）的交流損耗特性和介電(dian)常數

的測試方法

GCSTD高低頻介電常數測試儀試驗方法：

接觸(chu)法：適用于厚度均勻(yun)、上下表面平(ping)整、光滑材(cai)料(liao)

非接觸法：適(shi)用(yong)于上下表面(mian)不平(ping)整、不光滑(hua)材料

電極類型：固定(ding)電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配電極1套，標配為38mm）

液體電極(ji)-液體容量15ml

粉體電(dian)極-根據樣品量可配專用電(dian)極

試樣(yang)類(lei)型：固體(ti)、液體(ti)、粉(fen)體(ti)、膏體(ti)／規則物(wu)或(huo)者不(bu)規則物(wu)

性能特點：

測試(shi)頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試(shi)電平10mV～5V，1mV步(bu)進(jin)

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速(su)度

320x240點陣大(da)型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的(de)自動電(dian)平(ping)調整（ALC）功能(neng)

V、1測試信號電平(ping)監視功(gong)能

圖形掃描分析功能

20組(zu)內(nei)部儀(yi)器設定(ding)可供儲(chu)存(cun)／讀取

內建(jian)比(bi)較器，10檔分選(xuan)及(ji)計(ji)數功能

多種通訊(xun)接口方(fang)便用(yong)戶聯機使用(yong)

2m／4m測試電(dian)纜(lan)擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升(sheng)級儀(yi)器(qi)工作程(cheng)序(xu)

測試材料：

無源(yuan)元件(jian)：電(dian)(dian)容器(qi)、電(dian)(dian)感器(qi)、磁芯(xin)、電(dian)(dian)阻器(qi)、壓電(dian)(dian)器(qi)件(jian)、變(bian)壓器(qi)、芯(xin)片組件(jian)和網絡元件(jian)

等的陽(yang)抗參(can)數評(ping)估(gu)和性能分析。

半導體元件：變容(rong)二極(ji)管的C-VDC特性；晶體管或集成電路(lu)的寄生(sheng)參(can)數分析(xi)

其它元件：印制電路(lu)板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估(gu)

介(jie)質材料(liao)：塑料(liao)、陶瓷和(he)其它材料(liao)的(de)介(jie)電常數和(he)損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和(he)其(qi)它磁性材料的導磁率和(he)損耗角評估

半(ban)(ban)導(dao)(dao)體(ti)材料：半(ban)(ban)導(dao)(dao)體(ti)材料的(de)介電(dian)(dian)常數(shu)、導(dao)(dao)電(dian)(dian)率和C-V特性

液(ye)晶材料：液(ye)晶單元(yuan)的(de)介(jie)電(dian)常數、彈性常數等(deng)C-V特(te)性