產品介紹

GCSTD-DGCSTD固體高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻(pin)(pin)、音頻(pin)(pin)、高頻(pin)(pin)（包括米波(bo)波(bo)長在內）下電容

率和介質損耗(hao)因數的推薦(jian)方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介(jie)電常數和介(jie)質損耗角正切值的測定方(fang)法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電絕(jue)緣材料的(de)（恒久電介質）的(de)交流損耗特(te)性和(he)介電常數

的測試方法

GCSTD固體高低頻介電常數測試儀試驗方法：

接觸法：適(shi)用于厚度均勻、上(shang)下表面平整(zheng)、光滑材料

非接觸法(fa)：適用(yong)于上下表(biao)面不(bu)平(ping)整、不(bu)光滑(hua)材(cai)料(liao)

電(dian)極(ji)(ji)類型：固定(ding)電(dian)極(ji)(ji)-測量電(dian)極(ji)(ji)φ38mm／φ50mm（標(biao)配(pei)電(dian)極(ji)(ji)1套，標(biao)配(pei)為38mm）

液體電(dian)極(ji)-液體容(rong)量15ml

粉體電極(ji)-根據樣品量(liang)可配(pei)專用電極(ji)

試(shi)樣類型(xing)：固體(ti)、液體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)／規則物或者(zhe)不規則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電(dian)平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高(gao)達200次／s的測(ce)量速度

320x240點陣大型圖形LCD顯示(shi)

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗(kang)參數組(zu)合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至(zhi)40A（配(pei)置兩臺TH1776）（選(xuan)件）

電(dian)壓或電(dian)流的自動電(dian)平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供儲存／讀(du)取

內建比較器(qi)，10檔分選及計數(shu)功能

多種通訊接(jie)口方便(bian)用(yong)戶聯(lian)機使用(yong)

2m／4m測試(shi)電纜擴展(zhan)（選(xuan)件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動升級儀(yi)器工作程序

測試材料：

無源元件：電容器(qi)(qi)、電感器(qi)(qi)、磁芯、電阻器(qi)(qi)、壓(ya)電器(qi)(qi)件、變壓(ya)器(qi)(qi)、芯片組件和網絡元件

等(deng)的陽抗參(can)數評估和性能分(fen)析(xi)。

半導體元(yuan)件：變(bian)容二(er)極管(guan)的C-VDC特性；晶體管(guan)或集成(cheng)電路的寄生參數分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜(lan)、電池(chi)等的阻抗評估(gu)

介質材(cai)料：塑料、陶瓷和其它材(cai)料的(de)介電常數和損耗角評估

磁(ci)性材(cai)(cai)料(liao)：鐵氧(yang)體、非晶體和其它磁(ci)性材(cai)(cai)料(liao)的導磁(ci)率和損耗角評估

半(ban)導體材料：半(ban)導體材料的介電(dian)(dian)常數、導電(dian)(dian)率(lv)和C-V特性(xing)

液(ye)晶(jing)材(cai)料：液(ye)晶(jing)單元的介電常(chang)數、彈(dan)性常(chang)數等C-V特(te)性