產品介紹

GCSTD-DGCSTD粉體高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括(kuo)米波(bo)波(bo)長在內）下電容

率和介質損耗因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫(liu)化橡膠介(jie)電常數(shu)和(he)介(jie)質損耗角正切值(zhi)的(de)測定(ding)方法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電(dian)絕緣材料的(de)（恒久電(dian)介質）的(de)交流(liu)損耗特性和介電(dian)常(chang)數

的測試方法

GCSTD粉體高低頻介電常數測試儀試驗方法：

接觸(chu)法：適用于厚度均勻、上(shang)下表面(mian)平整(zheng)、光滑材料

非接(jie)觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材(cai)料(liao)

電(dian)(dian)極(ji)類型：固定電(dian)(dian)極(ji)-測量電(dian)(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標(biao)配電(dian)(dian)極(ji)1套，標(biao)配為(wei)38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根(gen)據(ju)樣品量可配專用電極

試樣類型：固體(ti)、液(ye)體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)／規(gui)則(ze)物或者(zhe)不(bu)規(gui)則(ze)物

性能特點：

測試頻(pin)率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進(jin)

基本準確度0.1％

最(zui)高(gao)達200次／s的測量速度

320x240點(dian)陣(zhen)大型圖(tu)形LCD顯示(shi)

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種阻抗參數(shu)組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏流(liu)源至40A（配置(zhi)兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的自動電(dian)平調(diao)整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設(she)定(ding)可供(gong)儲存／讀取

內建比較器(qi)，10檔分選(xuan)及計數功能

多種通訊接口方便(bian)用(yong)戶聯(lian)機使用(yong)

2m／4m測試(shi)電纜擴展（選(xuan)件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升(sheng)級儀(yi)器工作(zuo)程序

測試材料：

無源元件(jian)(jian)：電(dian)容器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)阻(zu)器(qi)、壓(ya)電(dian)器(qi)件(jian)(jian)、變壓(ya)器(qi)、芯片組(zu)件(jian)(jian)和(he)網(wang)絡(luo)元件(jian)(jian)

等(deng)的(de)陽抗參數(shu)評估和性(xing)能(neng)分析。

半(ban)導(dao)體元件：變容二(er)極(ji)管的C-VDC特性(xing)；晶(jing)體管或(huo)集成(cheng)電(dian)路的寄(ji)生參數分析(xi)

其它元件：印(yin)制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評(ping)估

介質材料：塑料、陶瓷和(he)(he)其它材料的介電(dian)常(chang)數和(he)(he)損耗角評(ping)估

磁(ci)(ci)性材(cai)料(liao)：鐵(tie)氧(yang)體、非晶(jing)體和其它磁(ci)(ci)性材(cai)料(liao)的導磁(ci)(ci)率和損耗角(jiao)評估

半導體(ti)材(cai)料：半導體(ti)材(cai)料的介電常數、導電率和C-V特性

液(ye)晶(jing)(jing)材料：液(ye)晶(jing)(jing)單(dan)元的介電常數、彈性常數等C-V特(te)性