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產品詳細頁GCSTD膏體高低頻介電常數測試儀
- 產品型號:GCSTD-D
- 更新時間(jian):2024-07-14
- 產品介紹:GCSTD膏體高低頻介電常數測試儀是一種*的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
GCSTD-DGCSTD膏體高低頻介電常數測試儀
滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包(bao)括(kuo)米波波長在內)下電容
率和(he)介(jie)質損耗(hao)因數的推薦方法
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常(chang)數和介質損耗角正切值(zhi)的(de)測定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)(dian)(dian)絕緣(yuan)材料(liao)的(de)(de)(恒久(jiu)電(dian)(dian)(dian)介質)的(de)(de)交流(liu)損耗特(te)性和(he)介電(dian)(dian)(dian)常數
的測試方法
GCSTD膏體高低頻介電常數測試儀試驗方法:
接(jie)觸法:適用于(yu)厚度(du)均勻(yun)、上下表面平整、光滑(hua)材料
非接觸(chu)法:適用于(yu)上下表面不平(ping)整、不光滑(hua)材(cai)料
電(dian)(dian)(dian)極類型:固定電(dian)(dian)(dian)極-測(ce)量電(dian)(dian)(dian)極φ38mm/φ50mm(標配(pei)電(dian)(dian)(dian)極1套,標配(pei)為38mm)
液體電(dian)極(ji)-液體容量15ml
粉體電極-根(gen)據樣品量可配專用(yong)電極
試樣(yang)類(lei)型:固體(ti)、液體(ti)、粉(fen)體(ti)、膏(gao)體(ti)/規(gui)則物或者不規(gui)則物
性能特點:
測(ce)試頻率20H2~2MHz,10mHz步進
測試電平(ping)10mV~5V,1mV步進(jin)
基本準確度0.1%
最(zui)高(gao)達(da)200次/s的測量(liang)速度
320x240點陣大型圖形LCD顯示
五位讀數分辨率
可測量22種阻抗(kang)參數組合(he)
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置(zhi)偏流源至40A(配置(zhi)兩(liang)臺(tai)TH1776)(選件)
電(dian)壓(ya)或電(dian)流(liu)的自動電(dian)平調(diao)整(zheng)(ALC)功能
V、1測試(shi)信號電平監視功能
圖形掃描分析功能
20組內(nei)部儀器設(she)定可供儲存(cun)/讀取
內(nei)建比較器,10檔分選及計(ji)數功能
多(duo)種通訊接(jie)口方便(bian)用(yong)戶(hu)聯(lian)機使用(yong)
2m/4m測試(shi)電纜擴展(zhan)(選件)
中英文可選操作界面
可通過USB HOST 自動升級儀器(qi)工作程序(xu)
測試材料:
無(wu)源(yuan)元(yuan)(yuan)件(jian)(jian):電(dian)(dian)容器(qi)、電(dian)(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)(dian)阻器(qi)、壓(ya)電(dian)(dian)器(qi)件(jian)(jian)、變壓(ya)器(qi)、芯片(pian)組件(jian)(jian)和網(wang)絡元(yuan)(yuan)件(jian)(jian)
等的陽(yang)抗參(can)數評估和性能分(fen)析。
半導(dao)體(ti)元件:變容二極(ji)管(guan)的C-VDC特性;晶體(ti)管(guan)或集成電路的寄(ji)生(sheng)參數分析
其它元件:印制電(dian)路板、繼電(dian)器(qi)、開關、電(dian)纜(lan)、電(dian)池(chi)等的阻抗評(ping)估
介(jie)質(zhi)材(cai)料(liao)(liao):塑料(liao)(liao)、陶瓷和其(qi)它材(cai)料(liao)(liao)的(de)介(jie)電常數和損耗角評(ping)估
磁(ci)性(xing)材料:鐵氧體(ti)、非晶體(ti)和其它磁(ci)性(xing)材料的(de)導磁(ci)率和損耗角評(ping)估
半(ban)(ban)導體(ti)材(cai)料:半(ban)(ban)導體(ti)材(cai)料的介電常數、導電率(lv)和C-V特性
液晶材料:液晶單元的介電常數(shu)、彈性常數(shu)等C-V特性
- 下(xia)一(yi)篇:GCSTD-CII工頻介電常數及介質損耗測試儀