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產品詳細頁GCSTD高低頻介電常數測試檢測儀
- 產品(pin)型號:GCSTD-D
- 更新時間:2024-07-14
- 產品介紹:GCSTD高低頻介電常數測試檢測儀是一種*的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
GCSTD-DGCSTD高低頻介電常數測試檢測儀
滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材(cai)料在(zai)工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)(包括米(mi)波(bo)波(bo)長在(zai)內)下電容(rong)
率和介質損耗因數的推薦方法
GB/T1693-2007硫(liu)化橡(xiang)膠介電常數和介質損耗角正切值的測(ce)定方(fang)法
ASTM D150/IEC 60250固(gu)體(ti)電絕緣材料的(恒久電介(jie)質)的交流損耗特(te)性和(he)介(jie)電常(chang)數
的測試方法
GCSTD高低頻介電常數測試檢測儀試驗方法:
接(jie)觸法:適用于厚度均(jun)勻、上下表面(mian)平(ping)整(zheng)、光(guang)滑材料(liao)
非接觸法:適用(yong)于(yu)上下(xia)表面不(bu)(bu)平整、不(bu)(bu)光(guang)滑材料
電極類(lei)型:固定電極-測量電極φ38mm/φ50mm(標配(pei)電極1套(tao),標配(pei)為38mm)
液(ye)體電極-液(ye)體容量15ml
粉體(ti)電極(ji)-根據樣(yang)品量可配(pei)專用電極(ji)
試(shi)樣類型:固體(ti)、液體(ti)、粉(fen)體(ti)、膏體(ti)/規(gui)則物(wu)(wu)或者不規(gui)則物(wu)(wu)
性能特點:
測(ce)試頻率20H2~2MHz,10mHz步(bu)進
測試電平10mV~5V,1mV步進
基本準確度0.1%
最(zui)高達200次/s的測量速度
320x240點陣大型圖形LCD顯示
五位讀數分辨率
可測量22種阻抗參(can)數(shu)組合
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置(zhi)(zhi)偏(pian)流源至(zhi)40A(配置(zhi)(zhi)兩(liang)臺TH1776)(選(xuan)件)
電(dian)壓或(huo)電(dian)流的自(zi)動電(dian)平調整(ALC)功能
V、1測試信號(hao)電(dian)平(ping)監(jian)視功能
圖形掃描分析功能
20組內(nei)部儀器設(she)定可(ke)供儲存/讀取
內建比較器,10檔(dang)分選(xuan)及(ji)計數功(gong)能
多種通(tong)訊接口方(fang)便用戶聯機使用
2m/4m測試電纜(lan)擴展(選件(jian))
中英文可選操作界面
可通(tong)過USB HOST 自動升級儀器(qi)工作程序(xu)
測試材料:
無源元(yuan)件(jian):電(dian)容器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)、壓(ya)電(dian)器(qi)件(jian)、變壓(ya)器(qi)、芯片組件(jian)和網絡元(yuan)件(jian)
等的陽抗(kang)參(can)數評估和性能分析(xi)。
半(ban)導體元件(jian):變容二極管(guan)的(de)C-VDC特性(xing);晶體管(guan)或集成電路的(de)寄生參數分析
其它元件(jian):印制(zhi)電(dian)(dian)路(lu)板、繼電(dian)(dian)器、開關、電(dian)(dian)纜(lan)、電(dian)(dian)池等的(de)阻抗評估
介質(zhi)材料(liao):塑料(liao)、陶瓷和(he)其它材料(liao)的介電常數和(he)損耗(hao)角評估
磁(ci)性材料(liao):鐵氧體、非(fei)晶體和其(qi)它磁(ci)性材料(liao)的導磁(ci)率和損耗角評估
半導體(ti)材料(liao)(liao):半導體(ti)材料(liao)(liao)的介電常(chang)數、導電率和C-V特性
液晶材料:液晶單元的介(jie)電常(chang)數、彈(dan)性常(chang)數等(deng)C-V特(te)性
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