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技術文章

固體絕緣材料介電常數和介質損耗試驗方法

技術文章

固體絕緣材料介電(dian)常數和(he)介質損耗試(shi)驗方法

固(gu)體(ti)絕緣材料(liao)介電常數和介質(zhi)損耗試驗方法(fa)

1. 試驗原理

介電常數和(he)介質損耗(hao)是固體絕(jue)緣材料的(de)重(zhong)要電氣性(xing)能參數。介電常數反(fan)映了材料在(zai)(zai)電場作(zuo)用下的(de)極化程度,而(er)介質損耗(hao)則反(fan)映了材料在(zai)(zai)電場作(zuo)用下的(de)能量損耗(hao)。這(zhe)兩個參數可以用于(yu)評(ping)估材料的(de)絕(jue)緣性(xing)能和(he)電能傳輸效(xiao)率(lv)。本試驗方法主要依(yi)據(ju)ASTM D150-14標準進行。

2. 樣品準備

選取具有代(dai)表(biao)性(xing)的固體(ti)絕緣(yuan)材(cai)料樣(yang)品,要(yao)求(qiu)樣(yang)品表(biao)面平整、無缺陷,尺寸至少為10mm×10mm×2mm。在進(jin)行介電常數和介質(zhi)損耗(hao)試驗前,樣品需在環境溫度下放置至少24小時以適應環境。

3. 測量系統校準(zhun)

在進(jin)行(xing)介電常數和介質損耗測(ce)(ce)試前,必須對測(ce)(ce)量系統(tong)進(jin)行(xing)校準(zhun)(zhun),以確保(bao)測(ce)(ce)試結果(guo)的(de)準(zhun)(zhun)確性。校準(zhun)(zhun)應使用標準(zhun)(zhun)介質進(jin)行(xing),如標準(zhun)(zhun)聚乙烯泡沫等。校準(zhun)(zhun)后,測(ce)(ce)量系統(tong)的(de)誤差應小于5%。

4. 介(jie)電常數測試

將(jiang)樣品置于測(ce)試電極(ji)之間,施加一定頻率的(de)交流電場,并測(ce)量樣品兩端的(de)電壓。介電常(chang)數可以(yi)通過(guo)以(yi)下公式計算:

ε = (C/ε0) × (V/d)

其中,C為(wei)電(dian)(dian)容值,ε0為(wei)真空介(jie)電(dian)(dian)常數(8.854187817 × 10-12 F/m),V為(wei)施加的電(dian)(dian)壓,d為(wei)樣品厚度。

5. 介質損耗測(ce)試(shi)

介質損耗可以(yi)通(tong)過(guo)測量樣品在(zai)交流電場(chang)作用下(xia)的功率損耗來計算(suan)。首先,測量樣品在(zai)不(bu)同頻率下(xia)的電流和(he)電壓,然后根(gen)據(ju)以(yi)下(xia)公式計算(suan)介質損耗:

tanδ = (I/V) × (ω/2π) × (1/C)

其中(zhong),I為(wei)(wei)電流(liu),V為(wei)(wei)電壓,ω為(wei)(wei)角頻(pin)率,C為(wei)(wei)電容值。

6. 數(shu)據處(chu)理與分析(xi)

對(dui)介(jie)電常(chang)數和(he)介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗的(de)試(shi)驗(yan)數據(ju)進行處理和(he)分析,繪制頻率(lv)與(yu)介(jie)電常(chang)數、介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗關系的(de)曲(qu)線(xian)圖。通過(guo)觀察曲(qu)線(xian)圖的(de)變化(hua)趨(qu)勢,可以得出材料的(de)絕緣性(xing)能和(he)電能傳輸效率(lv)等結論。

7. 試(shi)驗結果報(bao)告

將試(shi)(shi)(shi)驗(yan)的原始(shi)數據(ju)、計算結(jie)果和分析(xi)結(jie)論整理(li)成詳細的報告,包括樣品的名稱、規格、試(shi)(shi)(shi)驗(yan)條件(jian)、測(ce)試(shi)(shi)(shi)數據(ju)及結(jie)論等(deng)。報告中還需列出(chu)可能(neng)影響試(shi)(shi)(shi)驗(yan)結(jie)果的因素和控制方法。

8. 試(shi)驗注意事項

在進行介(jie)(jie)電常數和介(jie)(jie)質損耗試(shi)驗時(shi),需要注意以下幾(ji)點(dian):

1)樣品表面應保持(chi)干凈(jing),無灰(hui)塵、油脂(zhi)等雜質;

2)測試過程中應避(bi)免振動(dong)和電(dian)磁干擾;

3)在(zai)測試(shi)過程(cheng)中如發現異常(chang)情(qing)況,應立(li)即停止試(shi)驗并(bing)進行檢查(cha);

4)試驗結束(shu)后,應(ying)將樣(yang)品(pin)妥善保存以備后續分析使用。


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