電阻率測試儀在使用中會遇到哪些問題？

1. 在測(ce)容性負載(zai)阻(zu)值(zhi)時(shi)，絕緣電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀城出短路電(dian)流大小(xiao)與則量數據有(you)什(shen)么關(guan)系，為什(shen)么?

絕續電(dian)陽測試儀輸出短路電(dian)流(liu)的(de)大小可反映(ying)出讀(du)兆(zhao)政表(biao)內部輸出高(gao)壓源內粗(cu)的(de)大小。當(dang)被測試品存在電(dian)容(rong).量時，在剛城過(guo)(guo)程的(de)開始階設，絕(jue)零電(dian)阻(zu)測試收內的(de)高(gao)(gao)(gao)壓源要通(tong)過(guo)(guo)其內阻(zu)向該(gai)電(dian)容充電(dian)，并逐步將(jiang)電(dian)壓克(ke)到艷口祖測試儀的(de)輸(shu)出需定高(gao)(gao)(gao)壓值(zhi)。顯然，如(ru)果(guo)試品的(de)電(dian)容量值(zhi)很大。咸高(gao)(gao)(gao)壓源內阻(zu)很大，這一充電(dian)過(guo)(guo)程的(de)耗時就會加長(chang)。其長(chang)度可由R內和C負載的乘積決定(單位(wei)為)。請注意，給電(dian)(dian)(dian)容充電(dian)(dian)(dian)的電(dian)(dian)(dian)流(liu)與被測試(shi)品(pin)絕緣(yuan)(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻上流(liu)過的電(dian)(dian)(dian)流(liu)，在(zai)測試(shi)中是(shi)一起流(liu)入絕緣(yuan)(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻測試(shi)儀(yi)內的。 絕緣(yuan)(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻測試(shi)儀(yi)測得的電(dian)(dian)(dian)流(liu)不僅有絕緣(yuan)(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻上的分量，也加入了電(dian)(dian)(dian)容充電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)流(liu)分量,這時測得的阻值將偏小。

如:額定電壓為5000V的絕緣電(dian)(dian)阻(zu)測試儀，若其(qi)短路輸出電(dian)(dian)流為80μA(日本共立(li)產),其內阻(zu)為5000V/80μA= 62M2

如:試品容量為0.15μF,則時間常數T=62MS2x0.15μF≈9 ()即在18時刻，電容上(shang)的充電電流仍有11.3μA。

由此可(ke)見，僅由充(chong)電電流而形成的(de)等效(xiao)電阻為5000V/11.3μA = 442MS2,若正(zheng)常絕緣為1000M2,則顯(xian)示的測得絕(jue)緣值僅為306MS2。這(zhe)種(zhong)試(shi)值已不能反(fan)映絕(jue)緣值的真實狀況(kuang)了，而(er)(er)且試(shi)值主要是(shi)隨(sui)容性負載容量(liang)(liang)的變(bian)化而(er)(er)改變(bian)，即容量(liang)(liang)小，測試(shi)阻值大;容(rong)量大(da)，測試阻值小。

所以，為保障準確測得R15s，R60s的試(shi)值,應(ying)選用充電(dian)速度(du)快的大(da)容量絕緣電(dian)阻測(ce)試儀。我國的相關規程要求絕緣電(dian)阻測(ce)試儀輸出(chu)短路電(dian)流應(ying)大(da)于0.5mA、1 mA. 2 mA、5 mA,要求(qiu)高的(de)場(chang)合(he)應(ying)盡量選擇輸(shu)出(chu)短路電流較大的(de)絕緣電阻測試(shi)儀。

2.為(wei)什(shen)么測(ce)絕緣(yuan)時，不但要(yao)求(qiu)測(ce)單純的(de)阻值，而且還(huan)要(yao)求(qiu)測(ce)吸收(shou)比，化指數，有什(shen)么意義?

在(zai)絕(jue)緣測(ce)試(shi)中，某一個時刻(ke)的絕(jue)緣電阻值 是(shi)不(bu)能反(fan)映試品絕(jue)(jue)緣(yuan)性能的(de)(de)優劣的(de)(de)，這是(shi)由于(yu)以(yi)下兩方面(mian)原因，一方面(mian)，同樣性能的(de)(de)絕(jue)(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)，體積(ji)大(da)時呈現的(de)(de)絕(jue)(jue)緣(yuan)電阻(zu)小(xiao)，體積(ji)小(xiao)時呈現的(de)(de)絕(jue)(jue)緣(yuan)電阻(zu)大(da)。另一方面(mian)，絕(jue)(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)在加(jia)上高壓后均存(cun)在對電荷的(de)(de)吸(xi)收(shou)比過程和化(hua)過程。所以(yi)， 電力系(xi)統要(yao)求在(zai)主變壓器、電纜(lan)、電機(ji)等許(xu)多場(chang)合的絕緣測試中應測量吸收比(bi)一即R60s和R15s的比值(zhi)，和化指數(shu)即R10min和(he)R1min比(bi)值，并以此數據來判(pan)定(ding)絕(jue)緣狀況的優劣。

3.在(zai)高(gao)壓高(gao)阻(zu)的測試環境(jing)中(zhong)，為什(shen)么(me)要(yao)求(qiu)儀表接"G"端連線?

在被測試品兩端加(jia)上較高(gao)的(de)額定(ding)電壓(ya)，且絕緣阻值較高(gao)時，被測試品表面受潮濕，污染弓|起的泄漏較大，示值(zhi)誤差(cha)就大，而儀(yi)表" G'端是將被測試品表面泄(xie)漏的(de)電流(liu)旁(pang)路(lu)，使泄(xie)漏電流(liu)不經過儀表的(de)測試回路(lu)，消除泄(xie)漏電流(liu)引起的(de)誤差。

4.在校測(ce)某些型(xing)號絕緣儀表"L"、"E"兩(liang)端(duan)額定輸出直(zhi)流高(gao)壓時，用指針式(shi)萬(wan)用表DCV檔測L、E兩端電壓，為什么電壓會跌(die)落很多(duo),而(er)數字式萬用表則(ze)不會?

用普通的(de)指針式萬用表直接在絕緣電阻測(ce)試儀"L" "E"兩端(duan)測量 其輸出的額(e)定(ding)直流(liu)電壓(ya)，測量結果與標(biao)稱的額(e)定(ding)電壓(ya)值要小很(hen)多(duo)(超出誤差范圍(wei))，而用(yong)(yong)數字萬用(yong)(yong)表則不會。這(zhe)是因(yin)為(wei)指針(zhen)(zhen)式萬用(yong)(yong)表內(nei)阻較(jiao)小(xiao)，而數字萬用(yong)(yong)表內(nei)阻相對較(jiao)大。指針(zhen)(zhen)式萬用(yong)(yong)表內(nei)阻較(jiao)小(xiao)，絕(jue)緣電(dian)阻測試儀L-E端輸(shu)(shu)出電(dian)(dian)(dian)壓降低很多，不是正常工作時的輸(shu)(shu)出電(dian)(dian)(dian)壓。但(dan)是，用萬用表直接(jie)去測絕緣電(dian)(dian)(dian)阻測試儀的輸(shu)(shu)出電(dian)(dian)(dian)壓是錯誤的，應當用內阻阻抗(kang)較大的靜電(dian)(dian)(dian)高壓表或用分(fen)壓器等負(fu)載電(dian)(dian)(dian)阻足夠大的方式去測量(liang)。

5.能(neng)不能(neng)用兆歐表直接測(ce)(ce)帶電的被(bei)測(ce)(ce)試品，結果(guo)有什么影響，為什么?

為了人(ren)身(shen)安全和正常測(ce)(ce)(ce)試，原則(ze)上是不允許(xu)測(ce)(ce)(ce)量帶(dai)電的被(bei)測(ce)(ce)(ce)試品，若(ruo)要測(ce)(ce)(ce)量帶(dai)電被(bei)測(ce)(ce)(ce)試品，不會對儀表造成損壞(huai)(短時間內)， 但測試結果是不準確的，因為帶電后(hou)，被測試品便與其它試品連結在(zai)一起， 所(suo)以得出的結果不能(neng)真實的反(fan)映實際(ji)數(shu)據,而是與其它試品-起的并聯(lian)或(huo)串聯(lian)阻值。

6.為什么(me)電(dian)子式絕緣電(dian)阻測試儀幾節電(dian)池供電(dian)能(neng)產生較高(gao)的直流高(gao)壓?

這是根(gen)據直流變換原理,經過(guo)升壓電路處(chu)理使較低的供電電壓提升到較高的輸(shu)出直流電壓，產(chan)生的高壓雖然(ran)較高但輸(shu)出功(gong)率較小。

7.用絕(jue)緣電(dian)阻測(ce)試儀(yi)測(ce)量(liang)絕(jue)緣電(dian)阻時,有哪些(xie)因素會造成測量數據不準確，為什么?

A) 電池電壓(ya)不足。電池電壓(ya)欠壓(ya)過(guo)低,造成電路不(bu)能正常(chang)工作，所以測出的讀數(shu)是(shi)不(bu)準確的。

B) 測(ce)試線接法不正確。誤(wu)將"L"、"G"、 "E"三端(duan)接線接錯，或將"G"、 "L"連線"G"、 "E"連線接(jie)在被測試(shi)品兩端。

C) "G"端連(lian)線(xian)未接。被測(ce)試(shi)品由于受污(wu)染潮濕等因素造(zao)成(cheng)電(dian)流泄漏引起的(de)誤(wu)差， 造(zao)成(cheng)測(ce)試(shi)不準確，此時必須接好(hao)"G"端(duan)連線(xian)防止泄漏電(dian)流引起誤(wu)差。(責任編輯: 螞(ma)蟻)

D) 干(gan)擾過(guo)(guo)大。如(ru)果被測試品受(shou)環境電磁(ci)干(gan)擾過(guo)(guo)大，造成儀表讀(du)數(shu)跳(tiao)動。或指針晃動。造成讀(du)數(shu)不(bu)準(zhun)確。

E) 人為讀數錯(cuo)誤(wu)。在用指(zhi)針式絕緣(yuan)電阻(zu)測試(shi)儀測量時，由于人為視角誤(wu)差或(huo)標度尺誤(wu)差造成示值(zhi)不準(zhun)

確。

F) 儀表誤(wu)差。儀表本身誤(wu)差過大，需要重新校對(dui)。

8.高阻絕緣表現場(chang)測(ce)容性負(fu)載時(shi)(如(ru)主變)，指(zhi)針顯示阻值在某一區間(jian)突然跌落 (不是(shi)正常測試(shi)時的值區間內的緩慢小幅擺動(dong))，快速來回擺動， 是什么原因?

造成該現象主(zhu)要是試驗系(xi)統內某部位出(chu)現放電打火(huo)。絕緣表向容性被測試品充(chong)電中， 當(dang)容性試品(pin)被充至-定電壓時，如果儀表內(nei)部測試線或被測試品中任-部位有(you)擊穿放電打火， 就會出(chu)現上(shang)述(shu)現象。判(pan)別辦(ban)法(fa):(1)儀表測試座(zuo)不(bu)接入測試線，開啟(qi)電源和高壓,看儀(yi)表內(nei)是(shi)否(fou)有(you)打火現象發生(sheng)(若有(you)打火可聽到放電打火聲。(2)接(jie)上(shang)L、G、E測(ce)試(shi)線，不接被(bei)測(ce)試(shi)品，L測試(shi)線(xian)(xian)末端線(xian)(xian)夾懸空，開啟高壓，看測試(shi)導線(xian)(xian)是否有打(da)火現象發生。若有打(da)火現象，則檢查: a) L、 G測試線芯線(L端(duan))與(yu)裸露在外(wai)的線(G端)是否過近(jin)，產生拉弧打火。b) L端芯(xin)線(xian)插頭與測(ce)試座屏蔽環(huan)或(huo)測(ce)試夾子與被測(ce)試品(pin)接(jie)觸不良造成打火。c) 測試線與(yu)插(cha)頭(tou)、夾子之間虛焊(han)斷路(lu)，造成間隙放電。(3)接(jie)(jie)入被測(ce)試(shi)品(pin)(pin)， 檢查末端線夾與試(shi)品(pin)(pin)接(jie)(jie)觸點附近有無放電(dian)打火。(4)排除以(yi)上原因，接好被測(ce)試品(pin)，開(kai)啟高壓，若儀表仍有上述現象則說(shuo)明被測(ce)試品(pin)絕緣擊穿造(zao)成局部放電或拉弧。