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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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D高低頻介電常數測試儀產品介紹

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GCSTD-D 高低頻介電常(chang)數測(ce)試儀

滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容
率和介質損耗因數的推薦方法
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數
的測試方法
試驗方法:
接觸法:適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
非接觸法:適用于上下表面不平整、不光滑材料
電類型:固定電-測量電φ38mm/φ50mm(標配電1套,標配為38mm)
液體電-液體容量15ml
粉體電-根據樣品量可配用電
試樣類型:固體、液體、粉體、膏體/規則物或者不規則物
性能特點:
測試頻率20H2~2MHz,10mHz步進
測試電平10mV~5V,1mV步進
基本準確度0.1%
達200次/s的測量速度
320x240點陣大型圖形LCD顯示
五位讀數分辨率
可測量22種阻抗參數組合
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置偏流源至40A(配置兩臺TH1776)(選件)
電壓或電流的自動電平調整(ALC)功能
V、1測試信號電平監視功能
圖形掃描分析功能
20組內部儀器設定可供儲存/讀取
內建比較器,10檔分選及計數功能
多種通訊接口方便用戶聯機使用
2m/4m測試電纜擴展(選件)
中英文可選操作界面
可通過USB HOST 自動升儀器工作程序
測試材料:
無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件
等的陽抗參數評估和性能分析。
半導體元件:變容二管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件:印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
介質材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料:半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶材料:液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性


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