注：高(gao)阻測量一定要(yao)嚴格按(an)使用方法步(bu)聚進(jin)行，否則有可能造成(cheng)儀器(qi)損壞或電人。
7.1、 應在“Rx"兩端開(kai)路(lu)時調零（主機開(kai)機）：如接在電(dian)阻(zu)箱或被測量(liang)物(wu)體上時調零后測量(liang)會產生很大的(de)誤差。一般一次(ci)調(diao)零 后在測試(shi)過程中不(bu)需再調零，但改變測量電壓后可(ke)能(neng)要(yao)重新調零(ling)。
7.2、 禁(jin)止將(jiang)“電(dian)壓與(yu)電(dian)流"兩端短路(lu)，以免微電(dian)流放(fang)大(da)器(qi)受大(da)電(dian)流沖擊。
7.3、 在測(ce)試過程中不要隨(sui)意改動(dong)測(ce)量電壓(ya)：隨意(yi)改動測量電(dian)壓可能因電(dian)壓的過高或電(dian)流過大損壞被測試器(qi)件(jian)或測試儀器(qi)， 而且有(you)的材料(liao)是(shi)非線性的，即電壓(ya)與電流是(shi)不符合(he)歐(ou)姆定律，有(you)改變電壓(ya)時由 于電(dian)流不是線性變(bian)化，所(suo)以測量的電(dian)阻(zu)也會變(bian)化。
7.4、 測量時從低(di)次檔(dang)(dang)逐漸(jian)拔往高次檔(dang)(dang)：每撥(bo)一(yi)次稍停(ting)(ting)留3～5秒以(yi)便觀察顯(xian)(xian)示(shi)數字，當有顯(xian)(xian)示(shi)值時應停(ting)(ting)下，記錄當前的數字即(ji)是被(bei)測電阻值。若(ruo)顯(xian)(xian)示(shi)“1"時(shi)(shi)，表(biao)示(shi)欠量程應往高次(ci)檔拔。直到(dao)有顯示(shi)數(shu)字時(shi)(shi)為止。當有顯示(shi)數(shu)字時(shi)(shi)不能(neng)再往高次(ci)檔撥，否則有可能(neng)損壞(huai)儀器(機內(nei)有過電流保護電路)。除104Ω檔之(zhi)外，當顯示低于(yu)1.99，表示(shi)過量程應換(huan)低檔。
7.5、 大部分絕(jue)緣材料(liao)，特別(bie)是防靜電(dian)材料(liao)的(de)電(dian)阻值在加電(dian)壓后會有一定變化(hua)而引起數字變化(hua)：由(you)于本儀器的(de)分辯率(lv)很(hen)高，因而會引起顯(xian)示(shi)值(zhi)的(de)末尾幾位數(shu)也變化，這不(bu)是儀器本身的(de)問題，而是被測量對象的(de)導電(dian)機(ji)理復(fu)雜而使(shi)得(de)阻值(zhi)有些變化。在(zai)這種情況(kuang)下往(wang)往(wang)取2位(wei)有效數就夠了。
7.6、 接通電源后，手指不能(neng)觸及高壓線的(de)金屬(shu)部分：本儀(yi)表有二連根線(xian)，高(gao)壓線(xian)(紅)和微電流(liu)測(ce)試線。在使用時要注(zhu)意高(gao)壓線，開機后人(ren)不能觸及高(gao)壓線，以免電人(ren)或麻手。
7.7、 測試過(guo)程中(zhong)不能觸摸(mo)微(wei)電流測試端(duan)：微電(dian)(dian)(dian)流(liu)測試端最怕(pa)受到(dao)大電(dian)(dian)(dian)流(liu)或人體感應電(dian)(dian)(dian)壓(ya)及靜電(dian)(dian)(dian)的沖擊。所以在開機(ji)后和 測試過(guo)程中不能與(yu)微(wei)電(dian)流測試端接觸，以免損壞儀表。
7.8、 在測(ce)量高阻時，應采用屏蔽盒將被(bei)測(ce)物(wu)體屏蔽：在測量大于1010Ω以(yi)上時，為防止(zhi)外界(jie)干(gan)擾面(mian)而引起讀數不穩。
7.9、 每(mei)次測(ce)量(liang)(liang)完時應將量(liang)(liang)程開關(guan)撥回“104 "檔再進行下次測試(shi)
7.10、 在測量(liang)時(shi)應逐漸將量(liang)程(cheng)開(kai)關撥(bo)到(dao)高(gao)阻檔，測量(liang)完時(shi)應將量(liang)程(cheng)開(kai)關撥(bo)回(hui)低檔。以 確保下次開機時量程開關處在低(di)阻量程檔(dang)。
