測量次序

將直流電壓施加在試樣上,會改變其隨(sui)后測量的(de)工頻 tan6的(de)結果。

當在同一(yi)試樣(yang)上相(xiang)繼測量(liang)電(dian)容率、損(sun)耗(hao)因(yin)數和電(dian)阻(zu)率時,工頻下測量(liang)應在對試樣(yang)施加直流電(dian)壓以前進行。工頻試驗(yan)后(hou),應將兩(liang)電(dian)極(ji)短路1min后(hou)再開(kai)始測量(liang)電(dian)阻(zu)率。

導致錯誤結果的因素

雖然只(zhi)有嚴重污(wu)染才會影響電(dian)容(rong)率(lv)。但微量的(de)污(wu)染卻(que)能強烈地影響 tan 和(he)電(dian)阻率(lv)。

不(bu)(bu)可靠的(de)結果通常是(shi)由(you)于(yu)不(bu)(bu)適當的(de)取樣或處理試樣所(suo)造成(cheng)的(de)污染(ran)、由(you)未(wei)洗凈試驗池或吸收了水份, 特別是(shi)存在不(bu)(bu)溶(rong)解的(de)水份所(suo)引起。

在(zai)貯(zhu)藏期間長久暴露在(zai)強光線下會(hui)導致電介質劣化(hua),采用所(suo)推薦液體樣(yang)品貯(zhu)存(cun)和運輸(shu)以及試驗池(chi)的(de)結構和凈(jing)化(hua)的(de)標準化(hua)程序,可使由污(wu)染引起的(de)誤差減(jian)至(zhi)*小